EIA-364-23 (EIA-364-06) or MIL-STD-1344A,3004.1。

EIA-364-23C-2006 R2017.pdf

規(guī)范要求：

一般要求接觸阻抗（Contact Resistance）

目的：維持連接器在使用期限內(nèi)的接觸阻抗，以減少信號(hào)和能量在傳輸過程中的損失或衰減。

測(cè)試方法：EIA-364-23 (EIA-364-06) or MIL-STD-1344A,3004.1。

測(cè)試要點(diǎn)：

a. 測(cè)試電流/電壓 100mA@20mV，被測(cè)試連接器（連接系統(tǒng)）無負(fù)載。

b. 測(cè)試電流為低電流是為了避免接觸阻抗受到端子（導(dǎo)體）熱電效應(yīng)影響。

c. 測(cè)試電壓為低電壓是為了避免端子（導(dǎo)體）之間接觸界面絕緣薄膜被擊穿和熔化。

DU-5217可滿足100mA@20mV的測(cè)試需求，測(cè)試電流100mA開路保護(hù)電壓在20mA