LCR數(shù)字電橋的C-D L-Q R-Q的說明

　　LCR測試儀上顯示的D是損耗值正切角，Q是品質(zhì)因數(shù)。兩個量的定義如下：

　　1、損耗值正切角：
　　如果對一個電容加上一個電壓，除了對電容充電的電流外還有漏掉的電流(電容的漏電流)，漏電流被消耗成了熱能，因此表示為電阻上的電流。漏電流與純電容的充電電流之比就是電容損耗角正切值。

　　2、品質(zhì)因數(shù)：
　    電學(xué)和磁學(xué)的量。表示一個儲能器件(如電感線圈、電容等)、諧振電路中所儲能量同每周期損耗能量之比的一種質(zhì)量指標(biāo);串聯(lián)諧振回路中電抗元件的Q值等于它的電抗與其等效串聯(lián)電阻的比值;元件的Q值愈大，用該元件組成的電路或網(wǎng)絡(luò)的選擇性愈佳。

　　LCR電橋中電感、電容、電阻參數(shù)測量儀，不僅能自動判斷元件性質(zhì)，而且能將符號圖形顯示出來，并顯示出其值。其還能測量Q、D、Z、Lp、Ls、Cp、Cs、Kp、Ks等參數(shù)，且顯示出等效電路圖形。

　　LP和LS是參數(shù)!

　　Ls 和 Lp S=SERIER串聯(lián)的意思，P=并聯(lián)，

　　C電容也同樣，這樣就清楚了，一個是串聯(lián)測試，一個是關(guān)聯(lián)測試。

　　L用串聯(lián)測試，C用并聯(lián)測試，等效電路連接。

　　為什么說LCR 電橋很難測高Q和低D器件，比如MLCC片式多層陶瓷電容器?

　　LCR電橋Q值和D值測量是依據(jù)如下圖原理公式計算得來：
      假定 Q = 10，0 則 ESR 為 1/100 的 XL?？梢?，ESR 在 Z = ESR + j*X中L 占的分量比較小，所以儀器或測量環(huán)境引起 ESR 微弱的變化都會被放大 100 倍，反應(yīng)出的現(xiàn)象就是：Q 值穩(wěn)定性不好或測量數(shù)據(jù)跳動較大。同樣的道理也適用于電容 D 的測量。

　　用戶能做的就是盡量選擇好一點的測試夾具改善效果，原則：能用 0m 的不要用 1m 的，能用 4 端測量不要用 2 端測量。